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      牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測器Symmetry S2

      名稱:物性分析測試儀器

      品牌:

      型號:

      簡介:牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測器Symmetry S2采用專門定制的CMOS傳感器和光纖板光學系統,集高速、高靈敏度和高衍射花樣質量于一體的強大組合。Symmetry S2與AZtec軟件相結合,為所有材料和所有測量提供優越的性能...

      • 產品介紹

      牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測器Symmetry S2采用專門定制的CMOS傳感器和光纖板光學系統,集高速、高靈敏度和高衍射花樣質量于一體的強大組合。Symmetry S2與AZtec軟件相結合,為所有材料和所有測量提供優越的性能。Symmetry S2的最高分析速度超過4500 pps,可在幾秒鐘內實現織構和晶粒度表征,而這是在不需要高束流或犧牲花樣分辨率的條件下實現的。這意味著,即使對難做樣品,如多相輕合金或變形鋼,也可以實現高速及高質量的分析。

      此外,Symmetry S2可以采集無畸變、百萬像素分辨率的EBSD花樣,用于精細的應變和相分析。軟件控制探頭傾轉(自動動態校準)和接近報警等創新功能,使Symmetry S2成為一款適合所有應用的探測器。

      當無需在速度和精度間做選擇時,全能型Symmetry S2可以輕松滿足所有應用需要。


      牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測器Symmetry S2特點

      Symmetry S2探測器性能出色,使用方便,是所有EBSD應用的理想探測器:

      • 保證標定速度 > 4500點/秒(pps)
      • 光纖板光學系統帶來優異的靈敏度
      • 高靈敏度 > 800 pps/nA
      • 最快速度時花樣分辨率為156 x 88 像素
      • 百萬像素全分辨率(1244 x 1024)花樣——理想的高角度分辨率(HR)-EBSD應變分析
      • 亞像素畸變,保證角度精度優于0.05°
      • 軟件控制傾轉接口,且自動校準——為所有大小的樣品和幾何設置提供理想的定位和標定
      • 接近報警——提前探測可能發生的碰撞,并自動移動探測器至安全位置
      • 五個集成的前散射探測器(FSD,選配), 提供全彩色通道襯度圖像和原子序數襯度圖像
      • 波紋管SEM接口,保持顯微鏡真空的完整性
      • 簡單直觀的探測器設置,確保每次都能獲得優異的結果

      牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測器Symmetry S2應用

      Symmetry S2集極速、靈敏度和多功能于一體,是一款能夠覆蓋所有應用領域的全能型EBSD探測器。這包括:

      • 標準金屬和合金樣品的常規分析
      • 深入檢查應變和變形
      • 復雜或束流敏感樣品的有效表征
      • 優化大樣品測量
      • 納米晶材料的透射菊池衍射(TKD)分析

      材料性能的快速質量控制

      • Symmetry S2的最大分析速度 >4500 pps,可在若干秒鐘內測量樣品關鍵性能
      • 依據ASTM E2627標準分析雙相不銹鋼的晶粒度,晶粒數量 >2000個,時間<80秒。
      • 同樣,織構和相分數的快速表征使得Symmetry S2非常適合于質量控制和高產量應用
      • 僅使用中等束流(4 nA)即可對各種材料完成高速分析

      敏感樣品的高速分析

      • Symmetry S2探測器內獨特的光纖板光學系統提供了優異的靈敏度,不僅確保來自束流敏感材料的出色數據,而且對所有樣品類型都有性能優勢
      • 對石英(SiO2)礦物樣品,僅使用中等束流以1900 pps的速度在12分鐘內完成準確相分析
      • Symmetry S2的靈敏度確保您可以在所有應用中利用探測器的高速度,短時間內完成大量樣品的檢測

      應變樣品的詳細分析

      • 為了有效地表征應變,具有百萬像素分辨率和最小畸變的探測器至關重要
      • Symmetry S2是一款能滿足這些標準的探測器——全1244 x 1024像素衍射花樣是高角度分辨率(HR)EBSD的理想選擇,每個探測器都能保證亞像素畸變
      • 本例顯示了高質量的EBSD花樣與AZtec的高精度標定模式如何描述應變鎳樣品中的位錯胞

      分析任意大小的樣品

      • 使用傳統EBSD探測器很難分析大樣品,因為它們需要在SEM的長工作距離(WD)下進行分析,這會損害標準EBSD幾何位置
      • Symmetry S2有軟件控制傾斜,可為每種樣品類型定位于其理想的幾何位置,從TEM薄片到厘米尺度樣品(如原位測試樣品或地質薄片)
      • 該面分布圖顯示了來自大型力學測試的Ti64合金樣品的EBSD數據,晶粒取向數據用于計算加載方向的楊氏模量



      電子背散射衍射(EBSD)是一種基于掃描電子顯微鏡(SEM)),提供樣品顯微結構晶體學信息的技術。在EBSD中,電子束與傾斜的晶態樣品相互作用,形成衍射花樣。衍射花樣可以通過熒光屏探測到,它具有所產生處樣品的晶體結構和取向特征。因此,衍射花樣可用來確定晶體結構及取向、區分晶體上不同的相、表征晶界、和提供有關局部結晶完整性的信息。
       
      EBSD已成為SEM中的一個出色的附件,常用來提供晶體學信息。EBSD廣泛地應用于許多不同的領域,以幫助材料表征,如下表所示。
       
       AZtec EBSD系統結合了EBSD( Symmetry )的速度和靈敏度以及 AZtecHKL軟件出色的分析性能,為電子背散射衍射(EBSD)和透射菊池衍射(TKD)分析提供了一種功能強大、用途廣泛的工具。

      行業 材料 典型的EBSD測量
      金屬研究和加工 金屬,合金 晶粒尺寸
      航天 金屬間化合物 晶界表征
      汽車 夾雜物/沉淀物/第二相 體織構
      核能 陶瓷 局部織構
      微電子 薄膜 CSL晶界表征
      地球科學 太陽能電池 再結晶或形變率
      科研領域 地質 亞結構分析
        半導體 相鑒定
        超導體 相分數和相分布
        相變
        金屬和陶瓷復合材料 斷口分析
        骨頭,牙齒 晶粒和相間的取向與取向差關系

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